- ミルテックだけの固有なハイブリッド3Dテクノロジー - 光学系のZ軸移動を通じた50㎜高さピン検査 - 最大高さ(50,000㎛)測定基準±15㎛の高い精密度
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TAL 3D SCAN
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MV-6 OMNI Series
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