TAL 3D SCAN30%生産性向上

Z軸なしで最大高さ70㎜までの部品検査が可能

- ミルテック独占のレーザーセンサ使用（特許出願中）

AOI待機中の基板をたった一回のスキャンでデータ取得完了

従来の3D AOIに比べて超高速検査が可能になり、生産性UP

3D AOIの外部取付モジュール

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