世界最高の光学技術で
完成された検事ソリューション

マシンビジョン検査機の核心は、正確な測定のための光学システムとその解釈のためのソフトウェアです
ミルテックは優れた光学技術と長い期間の検査機開発や運営ノウハウで四角(死角)ない光学検 査ソリューションを完成しました。 世界トップクラスの性能のカメラ、プロジェクターや照 明が適用されたミルテックのAOIは精密な測定、鮮明なイメージ、高度の解析アルゴリズムを 組み合わせて最上の検査環境を構築します。 また、3D検事、2D検査及び側面検査を組み合わ せたソリューションとして裏声不良率を最小化させることにより生産性を向上させます

01. One Clickに、容易な使用

ミルテックのAOIソフトウェアは使用者が御しやすいように設計されて、 複雑な過程なしにOne Clickでプログラムを完了することができます。 だけでなく、 システムで検査に最も適したパラメータを自動的に探してくれるAuto Fine Tuning 機能が適用され、使用者の熟練度に影響されず、最上の性能で検査を実行します

02. 精密測定に基盤した3D検査能力

ミルテックのOMNI ビジョン®検査技術は多重パターン方式のMoire 3Dプロジェクターを活用して、 部品とはんだの位置、形状を精密に測定します。 独自の技術が適用された高性能の光学系と高い 機構的完成度で安定的な正確度、反復度を確保することで、どんな環境でも信頼性のある検査結果を得ることができます

03. 側面カメラを活用した多面検査

2D検査は形と位置だけでなく、色相ㆍ文字など、様々な情報を活用して、 多彩な検査が可能な一方、平面情報のみを利用することに高さと関連して いる不具合検出性能に制限があります
ミルテックのMULTI ビジョン®検査技術は高解像度の中央カメラと側面カメラ を同時に使用で、一つの対象を多面検査することにより、3Dでも簡単に探し出 しにくいJ-Lead、No-Lead、Coil類部品、はんだなどの不良を簡単に検出します

04. 優越した光学性能と検出力

カメラの仕様はAOIの性能を決める重要要素です。 ミルテックの検査機は業界最高の解像度と高精密なレンズを適用したカメラを中 央及び側面検査に使用して獲得したイメージで微細な不良まで検出します。
また、同軸が適用された8段照度計を元AOIに使用してさまざまな部品と検査項目 に対し、全方位で対応、反射性資材の不良やチップ部品の微細クラックも簡単に見つけることができます

05. 精密でスピーディーな検査

ミルテックのAOIは高解像度カメラによる広いFOVとCoaXPress高速イメー ジ転送規格、サーバー級のPCを使用したデータ・プロセッシングを通じて、 精密高速検査を実現します。 だけでなく、装備によってリニアドライブモータ ーシステムを駆動械のとして採用して半導体後工程に対応する繰り返し精度を 確保することができます