제목 | Global Technology Award 수상 : MV-7 2D/3D In-Line AOI Series | ||
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조회수 | 2742 | 작성일 | 2018.05.16 |
MIRTEC Wins a Global Technology Award at Productronica 2011 for its Revolutionary MV-7 2D/3D In-Line AOI Series
새로운 MV-7 2D/3D AOI 장비는 15 Mega Pixel Top-Down 카메라와 정밀한 Telecentric 복합 렌즈로 구성된 미르기술의 독점 15 Mega Pixel ISIS(Infinitely Scalable Imaging Sensor, 무한 확장성을 지닌 화상 센서) Vision System을 장착하였다. 이름에서 알 수 있듯이, ISIS Vision System의 해상도는 실제로 모든 생산 환경의 특정한 검사 요구사항에 맞춰 조정 및 수정이 가능하며, 이것이 속도와 실적에는 영향을 미치지 않는다. 미르기술의 혁신적인 3D Multi Frequency Quad Moiré 기술은 네 개의 Moiré 검사 probe를 사용하여 조립이 끝난 기판에 대한 정환학 3D 검사결과를 제공한다. 이 독점 시스템은 reflow 후의 solder 부피 뿐 아니라 부품 들뜸 및 리드 들뜸 불량을 검출하는 데 쓰이는 높이를 정확하게 측정한다. 또한 새로운 MV-7 장비는 15 Mega Pixel Top-Down 카메라에 더하여 네 개의 10 Mega Pixel Side-View 카메라를 장착하여, 완벽한 구성을 갖추었다. 미르기술 미국법인의 법인장 Brian D'Amico는 시상식에서 다음과 같이 소감을 밝혔다. "우리의 새로운 MV-7 2D/3D AOI Series 의 디자인과 개발에 뛰어난 기여를 한 미르기술의 유능한 기술팀을 대신하여 2011 Global Technology Award 를 받게 되어 영광으로 생각합니다. 이 최신기술이 전자 검사기 분야에 전예없는 속도와 실적을 제공할 뿐 아니라, 타 검사 장비들의 척도가 될 새로운 기준을 만들 것이라고 우리는 확신합니다." Global Technology Awards 프로그램은 2005년에 처음 열렸으며, 전자 표면 실장 부문의 뛰어난 제품을 위한 연례행사로 자리잡았다. 기술적으로 혁신적인 진보를 이룬 사례에 기반한 최고의 제품은 유명한 업계 전문가 패널에 의해 선택된다.
The new MV-7 2D/3D AOI machines are configured with MIRTEC’s exclusive 15 Mega Pixel ISIS Vision System. This revolutionary optics system is comprised of a 15 Mega Pixel Top-Down Camera and a Precision Telecentric Compound Lens. This proprietary vision system is designed and manufactured by MIRTEC for use with its complete product range of inspection equipment. ISIS is an acronym for Infinitely Scalable Imaging Sensor. As the name implies, the resolution of the ISIS Vision System may be scaled or modified to address the specific inspection requirements of virtually any production environment without sacrificing speed or performance. MIRTEC’s revolutionary 3D Multi Frequency Quad Moiré Technology provides true 3D inspection of SMT devices on finished PCB assemblies using a total of four (4) Moiré Inspection Probes. This proprietary system yields precise height measurement used to detect lifted component and lifted lead defects as well as solder volume post reflow. Fully configured, the new MIRTEC MV-7 machines also feature four 10 Mega Pixel Side-View Cameras in addition to the 15 Mega Pixel Top-Down Camera. At the award ceremony, Brian D’Amico, President of MIRTEC’s North American Sales and Service Division stated; "We are very proud to accept the 2011 Global Technology Award on behalf of MIRTEC’s extremely talented engineering team for their outstanding performance in the design and development of our new MV-7 2D/3D AOI Series. We are confident that this advanced technology will not only provide unprecedented speed and performance to the electronics inspection industry, but will undoubtedly set a new standard by which all other inspection equipment will be measured.” Premiering in 2005, the Global Technology Awards program is an annual celebration of product excellence in electronics surface mount assembly. Premier products based on the finest examples of creative advancement in technology are chosen by a distinguished panel of industry experts. For further information, please visit www.mirtecusa.com. |