
SEMI 3D AVIMV-9SIPPREMIUM 3D AVI FÜR DIE HALBLEITER-NACHBEARBEITUNG
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ProdukteigenschaftenHybrid-3D-SiP-Inspektionstechnologie
SiP (System in Package) besteht aus verbundenen Komponenten mit unterschiedlichen Eigenschaften und erfordert eine Kombination mehrerer Inspektionstechniken für optimale Ergebnisse.
12-Projektionen Digitales Blaulicht-Moiré
Die patentierte 12-Projektionen-Digital-Blaulicht-Moiré-Technologie von MIRTEC ermöglicht eine präzise und stabile 3D-Inspektion, die unabhängig von der Farbe des Bauteils oder Substrats ist.
Hybrid-Laserscan
Objekte mit hochreflektierenden oder extrem niedrigreflektierenden Oberflächen sind mit herkömmlichen optischen Methoden schwer zu inspizieren – doch MIRTEC überwindet diese Einschränkung.
25MP 7,7μm Hochauflösende Kamera
MIRTEC hat ein Vision-System der nächsten Generation implementiert, das mit 7,7μm-hochauflösenden Objektiven eine höhere Präzision und Stabilität bei der Inspektion gewährleistet.
8-Phasen Koaxiales Farblicht
Alle 3D-AVI-Systeme von MIRTEC sind standardmäßig mit koaxialer Beleuchtung ausgestattet, die besonders effektiv für die Inspektion von CSP-Bauteilen ist – ein wesentlicher Bestandteil der SiP-Inspektionsziele.
>Dual Drive LinearmotorDas System ist mit einem doppelt angetriebenen Linearmotor ausgestattet, der eine Wiederholgenauigkeit bei der Prüfung auf Halbleiterniveau ermöglicht.
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